镀层测厚仪
镀层测厚仪
采用高分辨率探测器与自动 XY 平台，进行可快速无损测量多层镀层厚度及合金成分的高精度 XRF 镀层测厚与元素分析设备
产品用途
1、测量元素覆盖铝（13 号）至铀（92 号），适配绝大多数金属镀层与合金检测
2、可测5 层镀层（4 层+ 基材），单层支持10种元素，可同时分析 25 种元素
3、配备50W 钨靶 X 射线管与高分辨率 SDD 探测器，测量精度高、信号稳定
4、搭载可编程自动 XY 平台（152×127mm），支持自动定位与批量测量
5、配置0.1/0.2/0.3/0.6mm 自动切换准直器，适配微小区域精准测量‘具备激光聚焦 + Z 轴自动控制，定位精准且带防碰撞安全保护
6、搭载专业膜厚 FP 软件，内置元素数据库，支持报告一键导出与数据管理
立即咨询：0755-27207716
