产品中心
PRODUCT CENTER
场发射扫描电子显微镜
操作直观智能,兼顾高分辨纳米成像与精准成分分析,适配前沿科研与高端工业检测。
产品用途

1、成像分辨率:15kV下0.9nm、1kV下1.3nm、500V下1.9nm,低电压成像衬度与细节表现出色,适配易损伤、不导电样品观测。

2、成像配置:放大倍率10–1000000X,支持积分平均降噪,可输出高清细节图像,信噪比优异。

3、样品台:五轴电动调节,X/Y行程125mm,兼容大尺寸样品,台面刚性强、定位精准,适配异形、重型样品观测。

4、适配模式:支持高真空、可变压力模式,可直接观测导电、非导电、磁性、易脱气等复杂样品。

5、分析性能:搭配高精度EDS几何系统,成像与成分分析速度更快、精度更高,一机完成形貌、夹杂、物相检测。

立即咨询:0755-27207716
产品详情
基础参数

1、金属、陶瓷、高分子、复合材料、岩矿的纳米级显微组织、断口形貌、夹杂物及物相定量分析。

2、半导体、电子元器件、PCB、焊点的微观缺陷、镀层结构、异物污染及失效机理分析。

3.、电池材料、增材制造粉体、生物材料的微观结构观测与性能关联分析,支持自动化图像拼接与智能数据分析。

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