牛津ETP孔铜测厚仪探头CMI760

当前位置：深圳市三昊仪器设备有限公司 > 产品中心 > 光学显微镜测量仪器 > 牛津ETP孔铜测厚仪探头CMI760

产品型号：

CMI760

品牌：

牛津

≧1 台
￥6000.00

所在地：

广东深圳宝安区

更新日期：

2025-02-24

详细信息

| 询价留言

品牌：牛津	型号：CMI760	类型：镀层测厚
工作电压：220 V	报警电流：0.01 mA	探测角度：平面
静态电流：0.01 uA	工作温度：26 ℃	探测距离：10 m
发射频率：0.1 MHZ	适用范围：0.01-1	探测距离：10 m

深圳市三昊仪器设备服务员：

ETP孔铜探头CMI700/500用深圳市三昊仪器设备有限公司提供

ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试*小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）联系人：刘先生
分辨率：0.01 mils (0.1μm)